GB/T 7221-1987 现场平衡设备的说明和评价

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基本信息
标准名称:现场平衡设备的说明和评价
英文名称:Field balancing equipment; Description and evaluation
中标分类: 机械 >> 机械综合 >> 基础标准与通用方法
ICS分类: 机械系统和通用件 >> 轴和联轴器 >> 平衡和平衡机
发布部门: 国家标准化管理委员会
发布日期:1987-01-15
实施日期:1988-01-01
首发日期:1987-01-15
作废日期:2005-10-14
主管部门:国家标准化管理委员会
归口单位:全国机械振动与冲击标准化技术委员会
起草单位:机械委郑州所
出版日期:1900-01-01
页数:5页
适用范围

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所属分类: 机械 机械综合 基础标准与通用方法 机械系统和通用件 轴和联轴器 平衡和平衡机
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基本信息
标准名称:硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
英文名称:Silicon epitaxial layers-determination of carrier concentration-mercury probe voltages-capacitance method
中标分类: 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属与半导体材料综合
ICS分类: 电气工程 >> 半导体材料
替代情况:替代GB/T 14146-1993
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2009-10-30
实施日期:2010-06-01
首发日期:1993-02-06
作废日期:
主管部门:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
提出单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
起草单位:南京国盛电子有限公司、宁波立立电子股份有限公司、信息产业部专用材料质量监督检验中心
起草人:马林宝、唐有青、刘培东、李静、金龙、吕立平
出版社:中国标准出版社
出版日期:2010-06-01
页数:12页
计划单号:20065633-T-469
适用范围

本标准规定了硅外延层载流子浓度汞探针电容电压测量方法。
本标准适用于同质的硅外延层载流子浓度测量。测量范围为:4×1013cm-3~8×1016cm-3。
本标准测试的硅外延层的厚度必须大于测试偏压下耗尽层的深度。
本标准也可适用于硅抛光片的载流子浓度测量。

前言

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目录

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引用标准

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T1550 非本征半导体材料导电类型测试方法
GB/T1552 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
GB/T14847 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法

所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 半金属与半导体材料综合 电气工程 半导体材料
【英文标准名称】:Testingofcolouringmaterialsinplastics;testingofcolouringmaterialsinplasticizedpolyvinylchloride(PVC-P)materials;preparationoftestspecimens
【原文标准名称】:塑料中的着色剂的检验.含增塑剂聚氯乙烯(P型PVC)模塑材料中的着色剂的检验.试样的制备
【标准号】:DIN53775T.2-1990
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:
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【正文语种】: